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TSV技术如何突破第4代封装瓶颈?

封装技术的演进:从“打线”到“打孔”

半导体封装的目的是将脆弱的裸芯片与外部世界连接起来,并提供保护、散热和电气连接,这个过程经历了几个主要阶段:

第4代封装技术:硅通孔技术(tsv)
(图片来源网络,侵删)
  1. 第1代: 引线键合

    • 方式:像用极细的电线(金线或铜线)将芯片上的焊盘和封装基板上的引脚连接起来,这是最传统、最常见的技术。
    • 缺点:信号传输距离长、速度慢;占用芯片面积大;难以实现高密度集成。
  2. 第2代: 倒装焊

    • 方式:将芯片翻转过来,像盖印章一样,将芯片底部的焊球直接对准并焊接到基板上。
    • 优点:比引线键合更短、更密集的连接,电气性能和散热性更好。
    • 缺点:芯片和基板之间仍然是二维平面连接,堆叠芯片需要“并排”放置,占用面积大。
  3. 第3代: 2.5D/3D 封装 (引入TSV前)

    • 为了解决面积问题,人们开始尝试将多个芯片垂直堆叠起来,这就是3D封装的雏形。
    • 早期的3D封装:使用“微凸块”将芯片一层一层地像叠积木一样粘合起来,这种方式被称为“堆叠封装”。
    • 问题:芯片之间的连接路径(微凸块)很长,信号延迟严重,功耗高,散热也成了大问题,它只是物理上的“堆叠”,电气性能并未得到质的提升。

正是在这种背景下,TSV技术应运而生,它成为了实现真正高性能3D封装的钥匙,从而开启了第4代封装的时代。

第4代封装技术:硅通孔技术(tsv)
(图片来源网络,侵删)

什么是硅通孔技术?

TSV (Through-Silicon Via),中文全称硅通孔技术,是一种在芯片(硅晶圆)内部直接蚀刻出微型深孔,并在孔内填充导电材料(通常是铜),从而在芯片的正面和背面建立电气连接的技术。

一个简单的比喻:

  • 传统封装 (引线键合/倒装焊):就像在城市里盖房子,所有道路(连接线)都建在地面(基板)上,绕着房子走,距离很长。
  • TSV技术:就像是在房子(芯片)内部直接挖了一部电梯(通孔),从一楼(正面)直达地下室(背面),极大地缩短了通行距离和所需时间。

TSV的核心优势

TSV之所以如此重要,是因为它带来了革命性的性能提升:

  1. 极高的带宽和更低的延迟

    第4代封装技术:硅通孔技术(tsv)
    (图片来源网络,侵删)
    • 原理:TSV直接贯穿硅芯片,连接路径极短(微米级),而传统封装的连接路径是毫米级甚至更长。
    • 效果:信号传输速度大幅提升,延迟显著降低,这对于高速计算、AI、5G/6G等对实时性要求极高的应用至关重要。
  2. 极致的集成度

    • 原理:TSV使得芯片可以真正地在垂直方向上堆叠,而不是在平面上并排排列。
    • 效果:在相同面积内,可以集成更多的功能单元(如CPU、GPU、内存、传感器等),实现“异构集成”(Heterogeneous Integration),这大大缩小了最终产品的尺寸。
  3. 更低的功耗

    • 原理:连接路径缩短,意味着信号传输过程中因电阻和电容造成的能量损耗(RC延迟)大大减少。
    • 效果:整个系统的功耗降低,对于移动设备和数据中心等对能效比要求苛刻的场景意义重大。
  4. 卓越的散热性能

    • 原理:TSV孔本身(尤其是填充铜后)是极好的热导体,可以将芯片产生的热量直接从热源(晶体管)快速导出到封装的散热基板或背面散热器。
    • 效果:解决了高密度堆叠芯片的散热瓶颈,使芯片能够以更高的频率稳定运行。

TSV的主要应用领域

TSV技术是现代尖端科技的基石,其应用主要集中在以下领域:

  1. 高性能计算 和人工智能

    • 应用:将高带宽内存(如HBM)与GPU、CPU等计算芯片通过TSV技术堆叠在一起,形成HBM内存模组,这极大地提升了AI训练和推理的数据吞吐量,是ChatGPT等大模型背后的关键技术之一。
  2. 移动设备

    • 应用:在智能手机中,将图像传感器(CIS)和处理器芯片堆叠,可以制造出更薄、性能更强的摄像头模块。
  3. 先进存储器

    • 应用:除了HBM,TSV还用于制造3D NAND闪存,通过将多层存储单元垂直堆叠,实现了TB级别的超大容量存储。
  4. MEMS/传感器

    • 应用:将微机电系统的传感器与配套的ASIC控制芯片集成在一起,实现更小、更智能的传感器模块。
  5. 光电集成

    • 应用:将硅光子芯片与电子芯片通过TSV集成,用于光通信、激光雷达等领域。

TSV面临的挑战

尽管优势巨大,TSV技术的制造工艺极其复杂,成本高昂,并面临诸多挑战:

  • 高成本:TSV需要在晶圆制造阶段就进行,工艺步骤繁多(深孔刻蚀、绝缘层沉积、 barrier/seed层沉积、铜电镀、化学机械抛光等),良率控制难度大,导致其成本远高于传统封装。
  • 热管理:虽然TSV有助于散热,但高密度堆叠会产生巨大的热量,如何将热量高效地从整个三维结构中导出,仍然是一个复杂的设计难题。
  • 可靠性:不同材料(硅、铜、焊料)之间的热膨胀系数不同,在温度循环过程中会产生应力,可能导致TSV或芯片开裂,影响长期可靠性。
  • 测试与修复:如何在三维堆叠结构中有效地测试每个芯片和每条TSV连接,并在发现故障后进行修复,是业界持续攻克的难题。

硅通孔技术是第4代封装技术的核心驱动力。 它通过在芯片内部建立“垂直高速公路”,彻底改变了芯片间连接的方式,实现了从“平面集成”到“立体集成”的跨越,它所带来的高性能、高带宽、低功耗和小尺寸等优势,使其成为支撑人工智能、5G通信、高性能计算和先进存储等下一代信息技术发展的关键基石,尽管面临成本和工艺的挑战,但随着技术的不断成熟和规模化应用,TSV必将在未来的半导体产业中扮演越来越重要的角色。

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